| 特征量 | 单位 | 说明 |
| 放电强度 | dB or mV | Zui大检测信号强度 |
| 放电相位 | 度 | Zui大检测信号所对应的相位 |
| 放电频次 | 次/秒 | 单位时间内超过预设阈值的检测信号次数 |
| 检测波形图 | 有一个工频周期的检测数据生成 | |
| 局部放电谱图 | 有不少于一个工频周期检测数据生成 |
GIS局部放电
GIS局部放电是指发生在GIS绝缘结构中局部区域内的放电现象，包括：自由金属颗粒放电、悬浮电位体放电、沿面放电、绝缘件内部气隙放电、金属尖端放电放电等。
超高频指频率为300MHz～3GHz的电磁波频段。
局部放电超高频检测
采用内置或外置的传感器检测GIS中局部放电在特高频频段（300MHz～3GHz）范围内所产生的电磁波信号。
带电测量
特指在GIS运行状态下，采用便携式仪器或示波器，通过内置、外置或可活动的UHF传感器，由专业人员对局部放电进行检测。
背景噪声
背景噪声是指在局部放电检测过程中测量到的非被检测设备所产生的信号，背景噪声包括检测装置中的白噪声、广播通讯信号、雷达信号以及其他的连续或脉冲干扰信号。
Zui小可测放电量
局部放电检测装置在检定条件下所能检出的Zui小放电量qmin（pC）。为了得到明确的测量结果，qmin的测量幅值至少应为背景噪声幅值的2倍。